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    CPS納米粒度分析儀差示離心沉降原理帶來的優勢

    發布時間:2022-02-28?14:23:24      點擊次數:151

      CPS納米粒度分析儀,有別于傳統方法,通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區分提供新的解決方案
     

      這種原理有以下幾點優勢:
     

      分辨率高:
     

      同激光散射和顆粒計數法等方法比較,該方法有非常高的分辨率。對于只有 1%的顆粒差異分布的時候,該方法測定的結果仍然有好的分離效果。您能看到的是顆粒分布本身,而不是分布顆粒的混合圖。
     

      靈敏度高:
     

      低至 10-8 g 的樣品就可以滿足日常分析需要。
     

      重復性高:
     

      樣品結果在95%的典型置信度下,連續重復分析峰的重復性小 于+/-1% 或更好。
     

      快速、高精度數模(A/D)轉換:
     

      可用信號分辨率(即軟件操作的對象)決定于  數模轉換的過程。CPS系統使用的數模  轉換  可以實現在每秒31次取樣時保持20位以上的精  度,幾百萬分之一的誤差。

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